Weitere Geräte

Spektralellipsometer WOOLLAM M-2000 DI

Mit dem Spektral Ellipsometer werden glatte, nicht streuende Oberflächen vermessen. Damit können der Brechungsindex, der Absorbtionskoeffizient und die Dicke dünner Schichten (üblicherweise 2 nm bis 10 µm) bestimmt werden.

  • Hersteller: J. A. Woollam Co., Inc., Lincoln, USA
  • Messung: Optische Konstanten (n, k), Schichtdicken (üblicherweise 2 nm bis 10 µm)

Programmbereich:
Optische Materialien
Dr. Peter W. de Oliveira

3D-Profilometer ZEISS Surfcom 1500 SD3

Mit dem 3D-Profilometer Surfcom 1500 SD3 der Firma ZEISS können schnelle, einfache und präzise Oberflächenmessaufgaben durchgeführt werden. Die Ausstattung liefert u.a. eine sehr hohe Genauigkeiten und Reproduzierbarkeit und sehr hohe Messgeschwindigkeiten (zusätzlich Vorschubeinheit mit patentierter Linearmotor-Technologie und Glasmaßstab in der X-Achse). Mit der ACTEE-Software kann flexibel, umfangreich und normgerecht gemessen, sowie ausgewertet und professionell dokumentiert werden. Es steht eine Vielzahl weiterer praktischer und spezieller Anwendungen zur Verfügung. Komplette CNC-Programme können schnell und einfach via Teach-In erstellt werden, wie z.B. für Mehrfachmessungen am gleichen Werkstück bei gleicher Aufspannung.

Messung von:

  • Rauheit nach DIN EN ISO (diverse Normen)
  • 2D – Oberflächenprofil (x und z)
  • 3DF – Oberflächentopographie (x, y, z)

Programmbereich:
Optische Materialien
Dr. Peter W. de Oliveira

UV-Vis-NIR Spektralphotometer Cary 5000

Der Cary 5000 ist ein Hochleistungs UV-Vis-NIR-Zweistrahlspektralphotometer für Messungen der Absorption zwischen 175 und 3000 nm (auch stark streuender Substanzen), Transmission, Reflektion oder Transflektion, flüssiger Proben, Pulver und Pasten, Konzentrationsbestimmung, Spektrenkinetik und Farbmetrik.

  • Hersteller: Varian
  • Messung: Spektroskopische Untersuchungen in Transmission und Reflexion

Programmbereich:
Optische Materialien
Dr. Peter W. de Oliveira

Weißlicht-Interferometer ZYGO

Das Weißlicht – Interferometer kann als ein Messgerät zur Darstellung der Oberflächentopographie (3D) reflektierender Proben verwendet werden. Außerdem können Schichtdicken und Oberflächen mit Stufen oder raue Oberflächen vermessen werden. Auf glatten Flächen können (longitudinale) Messgenauigkeiten im Bereich weniger Nanometer erreicht werden

  • Hersteller: ZYGO

Programmbereich:
Optische Materialien
Dr. Peter W. de Oliveira

Hazemeter BYK-Gardner HazeGard plus

Mit dem Hazemeter können Trübung (haze), Bildschärfe (clarity), Gesamttransmission (transmittance) nach ASTM D 1003 gemessen werden.
Die Speicherung und der Datentransfer zum PC ermöglichen die professionelle Dokumentation der Messergebnisse.

  • Hersteller: BYK Gardner

Programmbereich:
Optische Materialien
Dr. Peter W. de Oliveira

Hysitron TriboIndenter TI 950

Nanoindenter zur Bestimmung mechanischer Eigenschaften von planaren Proben aus Metall, Keramik, Polymeren, Kompositen oder biologischen Materialien.

Der Performech Controller ermöglicht sowohl kraft- als auch weggesteuerte Messungen. Dabei kann mithilfe verschiedener Kraftsensoren ein breiter Kraftbereich angewendet werden von Auflösungen von 0,1 µN bis hin zu Maximalkräften von 2 N: Standard Transducer, NanoDMA, Rapidprobe und 3D Omniprobe stehen zur Auswahl. Bei der Verwendung des XZ-500 Probentischs können Auslenkungen von bis zu 500 µm erreicht werden. Eine große Spitzenauswahl ermöglicht die Untersuchung verschiedener Materialsysteme, z.T. auch in Flüssigkeiten: Berkovich, cube-corner, flat punch, spherical. Die zu untersuchende Probenposition kann mit einer Genauigkeit von 0,5 µm angefahren werde. Dazu ist der Nanoindenter mit einem Auflichtmikroskop mit 20-facher und 50-facher Vergrößerung ausgestattet. Zudem erlaubt ein Heiztisch Untersuchungen bis zur einer Temperatur von 400 °C. Eine aktive und passive Vibrationskontrolle sowie ein akustisches Gehäuse schirmen die Probe von Umgebungseinflüssen ab. Folgende Analysemöglichkeiten werden angeboten:

  • Bestimmung des Elastizitätsmoduls und der Härte aus Indentationsversuchen
  • Dynamischer Messmodus nanoDMA zur Untersuchung viskoelastischer Eigenschaften
  • Bestimmung von Reibungskräften, Eindringtiefenprofilen und des Abriebs mittels Kratzversuchen
  • Abbildung der Eindrücke oder Kratzer mit Hilfe der Indenterspitzen oder eines AFMs

Programmbereich:
Nanotribologie
Prof. Dr. Roland Bennewitz