Mikroskope

HOCHAUFLÖSENDES RASTER-TRANSMISSIONS-ELEKTRONENMIKROSKOP (TEM/STEM) JEOL ARM200F

Hochmodernes STEM/TEM vom Typ ARM200 (JEOL) mit Korrektor für sphärische Aberration der STEM-Sonde (CEOS), mit kombiniertem Energiefilter und einem Energieverlustanalysator (Gatan). Dieses Mikroskop besitzt eine neu entwickelte kalte Feldemissionsquelle (Cold field emission source – CFEG) mit geringer Energieverteilung. Das Mikroskop kann damit z. B. mit einer Stromstärke von 200 pA und einer Energieverteilung von 0,3 eV einen Elektronenstrahl auf 0,08 nm fokussieren. Es ist zudem ausgestattet mit einem EDX-Analysator. Für 3D-Aufnahmen verfügt das System über einen Kipphalter und Software für STEM- und TEM-Tomographie (Gatan). Einzigartig ist die Möglichkeit, flüssige Proben mittels eines speziellen Probenhalters (Poseidon System von Protochips) zu untersuchen.

RASTERELEKTRONENMIKROSKOP JEOL JSM7500F

Hochvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit kaltem Feldemitter für hohe Auflösungen besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ab 0,1 kV. Semi-in-lens-System mit JEOL r-Filter für variable Filterung der von der Probe emittierten Rückstreu- und Sekundärelektronen. Zusätzlicher LABE-Detektor für Rückstreuelektronen bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen. Stickstofffreies „UltraDry Silicon Drift“ EDX-Analysesystem von Thermo Scientific (Noran 7) mit 30 mm2 Detektorfläche und einer Energieauflösung von 130 eV.

RASTERELEKTRONENMIKROSKOP FEI QUANTA 400 FEG ESEM

Rasterelektronenmikroskop mit Schottky-Emitter für Untersuchungen im Hochvakuum- (<10-5 Pa), LowVakuum- (bis 200 Pa) und ESEM-Modus (bis 2000 Pa). Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und STEM-Detektor für alle Vakuummodi. Heiz- und Kühltische für in-situ-Untersuchungen von 0°C bis 1500°C. Stickstoffgekühltes EDX-Analysesystem von EDAX (Genesis 6.02) mit einer Energieauflösung von 127 eV.

TRANSMISSIONS-ELEKTRONENMIKROSKOP FEI CM 200 FEG

Hochauflösendes Transmissions-Elektronenmikroskop zur Klärung von Fragestellungen zur chemischen Zusammensetzung, Morphologie und kristallinen Struktur von Materialien. Das mit einem Schottky-Feldemitter ausgerüstete und mit maximal 200 kV Beschleunigungsspannung betriebene Gerät (Hersteller: Philips, Baujahr: 1994) erzielt mit einer Super-Twin-Objektivlinse eine Punktauflösung von 2,4 Å. Das Gerät verfügt über die Arbeitsmodi HR-TEM (Abbildung im Beugungs- und Strukturkontrast), TEM Low Dose (Abbildung unter geringer Elektronenstrahl-Belastung), Nano Probe (analytische Charakterisierung von Arealen bis zu einem minimalen Durchmesser von 1 nm). Abbildung mittels Rastertransmissions-Elektronenmikroskopie (STEM) ist nicht möglich. Die Akquisition der Bilder erfolgt mittels einer ‚Gatan MultiScan Camera’ (Modell 794) und deren Auswertung mit der Bildbearbeitungs- und Analysesoftware ‚DigitalMicrograph’. Zur qualitativen und quantitativen Elementanalyse ist ein energiedispersives Röntgenspektrometer DX-4 / Phönix der Fa. EDAX vorhanden.

FLUORESZENZ MIKROSKOP LEICA DMI6000B

Vollständig motorisiertes invertiertes Fluoreszenz- und Interferenzkontrastmikroskop, ausgerüstet für das Arbeiten mit lebendigen Zellen, ein Mikromanipulator und Injektor (Eppendorf), hochauflösende Wasserimmersions- und Oillinsen, schnelles Abbilden durch Hardware Synchronisierung, 3D inklusive Entfaltung.