Mikroskope

Hochauflösendes Raster-Transmissions-elektronenmikroskop (TEM/STEM)

Durch das hochauflösende Raster-Transmissions-elektronenmikroskop (TEM/STEM) weitet das INM – Leibniz-Institut für Neue Materialien seine Analytik zum Centrum für Funktionelle Mikroskopie (CFM) aus. Damit setzt das INM einen Schwerpunkt, der die Untersuchung von Materialeigenschaften auf atomarer Ebene stärkt.
Im STEM lassen sich Veränderungen und Prozesse in nanostrukturierten technischen und biologischen Materialien darstellen. Es eignet sich vor allem für die Untersuchung von harten Materialien, wie zum Beispiel Keramiken und Metalle oder Mineralien aus der Natur. In der Elektronenmikroskopie wird die Materialprobe mit einem fein gebündelten Strahl aus Elektronen beschossen

Querschnittsbereich:
Innovative Elektronenmikroskopie
Prof. Dr. Niels de Jonge

Rasterelektronenmikroskop JEOL JSM7500F

Hochvakuum-Rasterelektronenmikroskop mit kaltem Feldemitter für hohe Auflösungen besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ab 0.1 kV. Semi-in-lens-System mit JEOL r-Filter für variable Filterung der von der Probe emittierten Rückstreu- und Sekundärelektronen. Zusätzlicher LABE-Detektor für Rückstreuelektronen bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen. Stickstofffreies „UltraDry Silicon Drift“ EDX-Analysesystem von Thermo Scientific (Noran 7) mit 30 mm2 Detektorfläche und einer Energieauflösung von 130 eV.

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Innovative Elektronenmikroskopie
Prof. Dr. Niels de Jonge

Rasterelektronenmikroskop Quanta 400 FEG ESEM

Rasterelektronenmikroskop mit Schottky-Emitter für Untersuchungen im Hochvakuum- (<10-5 Pa), LowVakuum- (bis 200 Pa) und ESEM-Modus (bis 2000 Pa). Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und STEM-Detektor für alle Vakuummodi. Heiz- und Kühltische für in-situ-Untersuchungen von 0°C bis 1500°C. Stickstoffgekühltes EDX-Analysesystem von EDAX (Genesis 6.02) mit einer Energieauflösung von 127 eV.

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Innovative Elektronenmikroskopie
Prof. Dr. Niels de Jonge

Rastersondenmikroskop JEOL JSPM5200

Hochauflösendes Rastersondenmikroskop mit austauschbarer Sondenspitze als Rasterkraft- (AFM) oder Rastertunnelmikroskop (STM) konfigurierbar. „Contact“, „non contact“ und „alternating contact“ mode im AFM-Betrieb, CITS, I-V, S-V und I-S Messungen im STM-Betrieb möglich. Umbau zum Environmentalsystem zur Untersuchung in verschiedenen Gasatmosphären möglich. Verschiedene Probenscanner bis max. 100 µm in x und y bzw. max. 5 µm in z vorhanden.

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Innovative Elektronenmikroskopie
Prof. Dr. Niels de Jonge

Transmissions-Elektronenmikroskop CM 200 FEG

Hochauflösendes Transmissions-Elektronenmikroskop zur Klärung von Fragestellungen zur chemischen Zusammensetzung, Morphologie und kristallinen Struktur von Materialien. Das mit einem Schottky-Feldemitter ausgerüstete und mit maximal 200 kV Beschleunigungs-Spannung betriebene Gerät (Hersteller: Philips, Baujahr: 1994) erzielt mit einer Super-Twin-Objektivlinse eine Punktauflösung von 2.4 Å. Das Gerät verfügt über die Arbeitsmoden HR-TEM (Abbildung im Beugungs- und Struktur-Kontrast), TEM Low Dose (Abbildung unter geringer Elektronenstrahl-Belastung), Nano Probe (analytische Charakterisierung von Arealen bis zu einem minimalen Durchmesser von 1 nm). Abbildung mittels Rastertransmissions-Elektronenmikroskopie (STEM) ist nicht möglich. Die Akquisition der Bilder erfolgt mittels einer ‚Gatan MultiScan Camera’ (Model 794) und deren Auswertung mit der Bild-Bearbeitungs- und -Analyse-Software ‚DigitalMicrograph’. Zur qualitativen und quantitativen Elementanalyse ist ein energiedispersives Röntgenspektrometer DX-4 / Phönix der Fa. EDAX vorhanden.

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Innovative Elektronenmikroskopie
Prof. Dr. Niels de Jonge